| 国家/地区 |
Usa（6）
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| 关键词 |
GRAPHENE（4）
DEFECT（2）
SCANNING TUNNELING .（2）
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| 出版物 | PHYSICAL REVIEW B（2） |
| 出版时间 |
2013（6）
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| 机构 | CARNEGIE MEL.（3） OAK RIDGE NA.（2） |
| 作者 |
FEENSTRA RM（6）
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ACS NANO
CLARK KW, ZHANG XG, VLASSIOUK IV, HE GW, FEENSTRA RM, LI AP
Low-energy electron reflectivity from graphene: First-principles computations and approximate models
ULTRAMICROSCOPY
FEENSTRA RM, WIDOM M
NANO LETTERS
PARK J, HE GW, FEENSTRA RM, LI AP
PHYSICAL REVIEW B
SRIVASTAVA N, GAO Q, WIDOM M, FEENSTRA RM, NIE S, MCCARTY KF, VLASSIOUK IV
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
ZHAO P, FEENSTRA RM, GU G, JENA D
PHYSICAL REVIEW B
FEENSTRA RM, SRIVASTAVA N, GAO Q, WIDOM M, DIACONESCU B, OHTA T, KELLOGG GL, ROBINSON JT, VLASSIOUK IV