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作者 FOX D（2）

Helium ion microscopy of graphene: beam damage, image quality and edge contrast

NANOTECHNOLOGY

FOX D, ZHOU YB, O NEILL A, KUMAR S, WANG JJ, COLEMAN JN, DUESBERG GS, DONEGAN JF, ZHANG HZ

Nitrogen assisted etching of graphene layers in a scanning electron microscope

APPLIED PHYSICS LETTERS

FOX D, O NEILL A, ZHOU D, BOESE M, COLEMAN JN, ZHANG HZ