国家/地区 Netherlands（2）
关键词
出版物
出版时间 2023（2）
机构
作者 JOBST J（2）

Low-energy electron microscopy contrast of stacking boundaries: Comparing twisted few-layer graphene and strained epitaxial graphene on silicon carbide

PHYSICAL REVIEW B

JONG TA, CHEN XC, JOBST J, KRASOVSKII EE, TROMP RM, MOLEN SJ

Stacking domain morphology in epitaxial graphene on silicon carbide

PHYSICAL REVIEW MATERIALS

DE JONG TA, VISSER L, JOBST J, TROMP RM, VAN DER MOLEN SJ