| 国家/地区 |
China（2）
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| 关键词 | |
| 出版物 | |
| 出版时间 |
2018（2）
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| 机构 | |
| 作者 |
LIAO YB（2）
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MICROELECTRONICS RELIABILITY
ZHANG QW, LI P, LIAO YB, WANG G, ZENG RZ, WANG H
JOURNAL OF COLLOID INTERFACE SCIENCE
XU LQ, LIAO YB, LI NN, LI YJ, ZHANG JY, WANG YB, HU XF, LI CM