国家/地区 Switzerland(3)
关键词 SCANNING TUNNELING MICROSCOPY(3)
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机构
作者 NARITA A(3)

ACS APPLIED NANO MATERIALS

BARIN GB, FAIRBROTHER A, ROTACH L, BAYLE M, PAILLET M, LIANG LB, MEUNIER V, HAUERT R, DUMSLAFF T, NARITA A, MULLEN K, SAHABUDEEN H, BERGER R, FENG XL, FASEL R, RUFFIEUX P

ACS NANO

DI GIOVANNANTONIO M, DENIZ O, URGEL JI, WIDMER R, DIENEL T, STOLZ S, SANCHEZSANCHEZ C, MUNTWILER M, DUMSLAFF T, BERGER R, NARITA A, FENG XL, MULLEN K, RUFFIEUX P, FASEL R

SMALL

BARIN GB, SUN Q, DI GIOVANNANTONIO M, DU CZ, WANG XY, LLINAS JP, MUTLU Z, LIN YX, WILHELM J, OVERBECK J, DANIELS C, LAMPARSKI M, SAHABUDEEN H, PERRIN ML, URGEL JI, MISHRA S, KINIKAR A, WIDMER R, STOLZ S, BOMMERT M, PIGNEDOLI C, FENG XL, CALAME M, MULLEN K, NARITA A, MEUNIER V, BOKOR J, FASEL R, RUFFIEUX P