| 国家/地区 |
Usa（3）
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SHEN M（3）
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PHYSICAL REVIEW B
SHEN M, SCHELLING PK, KEBLINSKI P
RSC ADVANCES
HE JK, LIU Y, MENG YT, SUN XC, BISWAS S, SHEN M, LUO Z, MIAO R, ZHANG LC, MUSTAIN WE, SUIB SL
ADVANCED MATERIALS INTERFACES
KIM E, ARGENZIANO R, ZHAO ZL, CHEN CY, SHEN M, BENTLEY WE, NAPOLITANO A, PAYNE GF