国家/地区 Korea（2）
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机构 SUNGKYUNKWAN UNIV SKKU（2）
作者 SHIN DW（2）

Effect of Si3N4 Thickness on the Optical Characterization of Graphene

JOURNAL OF NANOSCIENCE NANOTECHNOLOGY

SHIN DW, LEE JH, YOO JB

Observation of graphene grain boundaries through selective adsorption of rhodamine B using fluorescence microscopy

CARBON

SHIN DW, SUNG D, HONG JS, KIM M, YOON SS, SONG YJ, KIM G, HONG S, YOO JB