国家/地区 Poland（2）
关键词
出版物 APPLIED PHYSICS LETTERS（2）
出版时间 2016（2）
机构 INST ELECT M.（2）
作者 STRUPINSKI W（2）

Secondary ion mass spectroscopy depth profiling of hydrogen-intercalated graphene on SiC

APPLIED PHYSICS LETTERS

MICHALOWSKI PP, KASZUB W, MERKULOV A, STRUPINSKI W

Low-noise epitaxial graphene on SiC Hall effect element for commercial applications

APPLIED PHYSICS LETTERS

CIUK T, PETRUK O, KOWALIK A, JOZWIK I, RYCHTER A, SZMIDT J, STRUPINSKI W