国家/地区 | Usa(2) |
关键词 | |
出版物 | |
出版时间 | 2020(2) |
机构 | |
作者 | YANG YF(2) |
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
OE T, RIGOSI AF, KRUSKOPF M, WU BY, LEE HY, YANG YF, ELMQUIST RE, KANEKO NH, JARRETT DG
ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES
GE K, ZHANG Y, WANG D, LI ZX, HE JH, FU CC, YANG YF, PAN MW, ZHU L