国家/地区 Ireland（2）
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机构 UNIV DUBLIN TRINITY COLL（2）
作者 ZHOU YB（2）

Helium ion microscopy of graphene: beam damage, image quality and edge contrast

NANOTECHNOLOGY

FOX D, ZHOU YB, O NEILL A, KUMAR S, WANG JJ, COLEMAN JN, DUESBERG GS, DONEGAN JF, ZHANG HZ

Quantitative secondary electron imaging for work function extraction at atomic level and layer identification of graphene

SCIENTIFIC REPORTS

ZHOU YB, FOX DS, MAGUIRE P, O CONNELL R, MASTERS R, RODENBURG C, WU HC, DAPOR M, CHEN Y, ZHANG HZ