国家/地区 Singapore(3)
关键词 ATOMIC FORCE MICROSCOPY(3)
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机构 NANYANG TECH.(2)
作者

ANGEWANDTE CHEMIEINTERNATIONAL EDITION

ZHENG Y, SU CL, LU J, LOH KP

NANO LETTERS

AN HJ, TAN BH, MOO JGS, LIU S, PUMERA M, OHL CD