国家/地区 | Korea(3) |
关键词 | ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM(3) |
出版物 | |
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机构 | |
作者 |
ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES
KHAC BCT, DELRIO FW, CHUNG KH
JOURNAL OF NANOSCIENCE NANOTECHNOLOGY
SAMAL M, LEE JM, PARK WI, YI DK, PAIK U, LEE CL
SCIENCE OF ADVANCED MATERIALS
VU DT, HAN YH, LEE DY