国家/地区 Iran(3)
关键词 CIRCUIT MODELING(3)
出版物
出版时间 2017(3)
机构
作者

MICROELECTRONICS RELIABILITY

FOTOOHI S, HAJINASIRI S

JOURNAL OF PHYSICS DAPPLIED PHYSICS

TAGHVAEE HR, ZARRINKHAT F, ABRISHAMIAN MS

IEEE JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONICS

BAGHERI A, RAHMANI B, KHAVASI A