国家/地区 | Iran(3) |
关键词 | CIRCUIT MODELING(3) |
出版物 | |
出版时间 | 2017(3) |
机构 | |
作者 |
MICROELECTRONICS RELIABILITY
FOTOOHI S, HAJINASIRI S
JOURNAL OF PHYSICS DAPPLIED PHYSICS
TAGHVAEE HR, ZARRINKHAT F, ABRISHAMIAN MS
IEEE JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONICS
BAGHERI A, RAHMANI B, KHAVASI A