国家/地区 |
Iran(3)![]() |
关键词 |
CIRCUIT MODELING(3)![]() |
出版物 | |
出版时间 |
2017(3)![]() |
机构 | |
作者 |
MICROELECTRONICS RELIABILITY
FOTOOHI S, HAJINASIRI S
JOURNAL OF PHYSICS DAPPLIED PHYSICS
TAGHVAEE HR, ZARRINKHAT F, ABRISHAMIAN MS
IEEE JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONICS
BAGHERI A, RAHMANI B, KHAVASI A