| 国家/地区 |
Usa（2）
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| 关键词 |
CONTACT RESISTANCE（2）
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2020（2）
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| 机构 | |
| 作者 |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
VAZIRI S, CHEN V, CAI LL, JIANG Y, CHEN ME, GRADY RW, ZHENG XL, POP E
ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES
SOMAN A, BURKE RA, LI Q, VALENTIN MD, LI TT, MAO D, DUBEY M, GU TY