| 国家/地区 | |
| 关键词 |
CROSSTALK（2）
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2015（2）
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| 机构 | |
| 作者 |
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
ARANEO R, BURGHIGNOLI P, LOVAT G, HANSON GW
MICROELECTRONICS RELIABILITY
BAGHERI A, RANJBAR M, HAJINASIRI S, MIRZAKUCHAKI S