国家/地区 Usa(2)
关键词 DEFECT(2)
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机构
作者 GUO J(2)

IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY

CHOUDHURY MR, YOON Y, GUO J, MOHANRAM K

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

YOON Y, FIORI G, HONG S, IANNACCONE G, GUO J