| 国家/地区 |
Russia（2）
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| 关键词 |
DEFECT（2）
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2020（2）
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| 机构 | |
| 作者 |
SEMICONDUCTORS
ELISEYEV IA, DAVYDOV VY, SMIRNOV AN, BELOV SV, ZUBOV AV, LEBEDEV SP, LEBEDEV AA
ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES
BOULANGER N, KUZENKOVA AS, IAKUNKOV A, ROMANCHUK AY, TRIGUB AL, EGOROV AV, BAUTERS S, AMIDANI L, RETEGAN M, KVASHNINA KO, KALMYKOV SN, TALYZIN AV