| 国家/地区 |
Usa(3)
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| 关键词 |
DEFECT ENGINEERING(3)
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| 出版物 | |
| 出版时间 | |
| 机构 | |
| 作者 |
JOURNAL OF NANOELECTRONICS OPTOELECTRONICS
LIU GX
ACS NANO
BETS KV, ARTYUKHOV VI, YAKOBSON BI
ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES
JOSHI P, SHUKLA S, GUPTA S, RILEY PR, NARAYAN J, NARAYAN R
