国家/地区 Usa(3)
关键词 DEFECT ENGINEERING(3)
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作者

JOURNAL OF NANOELECTRONICS OPTOELECTRONICS

LIU GX

ACS NANO

BETS KV, ARTYUKHOV VI, YAKOBSON BI

ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES

JOSHI P, SHUKLA S, GUPTA S, RILEY PR, NARAYAN J, NARAYAN R