| 国家/地区 | |
| 关键词 |
DEFECT ENGINEERING（2）
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2012（2）
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| 机构 | |
| 作者 |
ACS NANO
SRIDHAR V, KIM HJ, JUNG JH, LEE C, PARK S, OH IK
JOURNAL OF NANOELECTRONICS OPTOELECTRONICS
LIU GX