国家/地区 Usa(4)
关键词 FOCUSED ION BEAM(4)
出版物 NANOTECHNOLOGY(2)
出版时间 2017(2)
机构
作者

NANOTECHNOLOGY

ZHANG Y, HUI C, SUN RJ, LI K, HE K, MA XC, LIU F

MEASUREMENT SCIENCE TECHNOLOGY

LEI N, LI PF, XUE W, XU J

NANOTECHNOLOGY

BOUTILIER MSH, HADJICONSTANTINOU NG, KARNIK R