国家/地区
关键词 FOCUSED ION BEAM(3)
出版物
出版时间 2011(3)
机构
作者

MEASUREMENT SCIENCE TECHNOLOGY

LEI N, LI PF, XUE W, XU J

JOURNAL OF NANOELECTRONICS OPTOELECTRONICS

BLOM T, JAFRI SHM, WIDENKVIST E, JANSSON U, GRENNBERG H, QUINLAN RA, HOLLOWAY BC, LEIFER K