国家/地区 Usa（2）
关键词 MAPPING（2）
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Thickness Estimation of Epitaxial Graphene on SiC Using Attenuation of Substrate Raman Intensity

JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS

SHIVARAMAN S, CHANDRASHEKHAR MVS, BOECKL JJ, SPENCER MG

Multiphonon Raman spectroscopy properties and Raman mapping of 2D van der Waals solids: graphene and beyond

JOURNAL OF RAMAN SPECTROSCOPY

GUPTA S, HEINTZMAN E, JASINSKI J