国家/地区 Japan(2)
关键词 NEARFIELD MICROSCOPY(2)
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作者

APPLIED PHYSICS EXPRESS

LIN KT, NEMA H, WENG QC, KIM S, SUGAWARA K, OTSUJI T, KOMIYAMA S, KAJIHARA Y

ACS PHOTONICS

TAKAMURA M, KUMADA N, WANG SN, KUMAKURA K, TANIYASU Y