国家/地区 | Japan(2) |
关键词 | NEARFIELD MICROSCOPY(2) |
出版物 | |
出版时间 | |
机构 | |
作者 |
APPLIED PHYSICS EXPRESS
LIN KT, NEMA H, WENG QC, KIM S, SUGAWARA K, OTSUJI T, KOMIYAMA S, KAJIHARA Y
ACS PHOTONICS
TAKAMURA M, KUMADA N, WANG SN, KUMAKURA K, TANIYASU Y
国家/地区 | Japan(2) |
关键词 | NEARFIELD MICROSCOPY(2) |
出版物 | |
出版时间 | |
机构 | |
作者 |
APPLIED PHYSICS EXPRESS
LIN KT, NEMA H, WENG QC, KIM S, SUGAWARA K, OTSUJI T, KOMIYAMA S, KAJIHARA Y
ACS PHOTONICS
TAKAMURA M, KUMADA N, WANG SN, KUMAKURA K, TANIYASU Y