国家/地区 Republic（2）
关键词 RAMAN SPECTROSCOPY（2）
出版物 APPLIED SURFACE SCIENCE（2）
出版时间
机构
作者

Non-destructive depth profile reconstruction of single-layer graphene using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy

APPLIED SURFACE SCIENCE

ZEMEK J, HOUDKOVA J, JIRICEK P, IZAK T, KALBAC M

Graphene preparation by annealing of Co/SiC structure

APPLIED SURFACE SCIENCE

MACHAC P, CICHON S, MISKOVA L, VONDRACEK M