国家/地区 China(5)
关键词 RELIABILITY(5)
出版物
出版时间 2021(2)
机构
作者

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

LIU WJ, SUN XW, FANG Z, WANG ZR, TRAN XA, WANG F, WU L, NG GI, ZHANG JF, WEI J, ZHU HL, YU HY

RARE METAL MATERIALS ENGINEERING

JIANG N, ZHANG L, XU KK, WANG FJ, LONG WM

JOURNAL OF PHYSICS DAPPLIED PHYSICS

XIE Y, QI M, XIU XM, YANG JD, REN YY