国家/地区
关键词 RELIABILITY（2）
出版物 IEEE ELECTRON DEVIC.（2）
出版时间 2012（2）
机构
作者

Graphene Interconnect Lifetime: A Reliability Analysis

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

CHEN XY, SEO DH, SEO S, CHUNG H, WONG HSP

Positive Bias-Induced V-th Instability in Graphene Field Effect Transistors

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

LIU WJ, SUN XW, FANG Z, WANG ZR, TRAN XA, WANG F, WU L, NG GI, ZHANG JF, WEI J, ZHU HL, YU HY