| 国家/地区 | |
| 关键词 |
RELIABILITY（2）
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2017（2）
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| 机构 | |
| 作者 |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
ROMERO MF, BOSCA A, PEDROS J, MARTINEZ J, FANDAN R, PALACIOS T, CALLE F
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS
MEHR MY, VOLGBERT S, VAN DRIEL WD, ZHANG GQ