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| 关键词 |
SCALING（3）
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| 出版物 |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS（3）
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| 作者 |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
BONMANN M, ASAD M, YANG XX, GENERALOV A, VOROBIEV A, BANSZERUS L, STAMPFER C, OTTO M, NEUMAIER D, STAKE J
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
CONTINO A, CIOFI I, WU XY, ASSELBERGHS I, CELANO U, WILSON CJ, TOKEI Z, GROESENEKEN G, SOREE B
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
ISLAM S, LI ZY, DORGAN VE, BAE MH, POP E