国家/地区 | Usa(3) |
关键词 | SCANNING TUNNELING MICROSCOPY(3) |
出版物 | |
出版时间 | 2013(2) |
机构 | OAK RIDGE NA.(2) |
作者 | FEENSTRA RM(3) |
2D MATERIALS
PAN Y, FOLSCH S, LIN YC, JARIWALA B, ROBINSON JA, NIE YF, CHO K, FEENSTRA RM
ACS NANO
CLARK KW, ZHANG XG, VLASSIOUK IV, HE GW, FEENSTRA RM, LI AP
NANO LETTERS
PARK J, HE GW, FEENSTRA RM, LI AP