| 国家/地区 |
Germany(2)
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| 关键词 |
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY(2)
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2020(2)
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| 机构 | TECH UNIV IL.(2) |
| 作者 | NEEL N(2) |
BEILSTEIN JOURNAL OF NANOTECHNOLOGY
ROTHE K, MEHLER A, NEEL N, KROGER J
SMALL METHODS
KROEGER J, NEEL N, WEHLING TO, BRANDBYGE M
