国家/地区 Poland（3）
关键词 SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY（3）
出版物 NANOTECHNOLOGY（2）
出版时间 2018（2）
机构 INST ELECT M.（2）
作者 MICHALOWSKI .（3） PASTERNAK I（3） STRUPINSKI W（3）

Formation of a highly doped ultra-thin amorphous carbon layer by ion bombardment of graphene

NANOTECHNOLOGY

MICHALOWSKI PP, PASTERNAK I, CIEPIELEWSKI P, GUINEA F, STRUPINSKI W

Contamination-free Ge-based graphene as revealed by graphene enhanced secondary ion mass spectrometry (GESIMS)

NANOTECHNOLOGY

MICHALOWSKI PP, PASTERNAK I, STRUPINSKI W

Precise localization of contaminants in graphene with secondary ion mass spectrometry

MEASUREMENT

MICHALOWSKI PP, KOZDRA S, PASTERNAK I, SITEK J, WOJCIK A, STRUPINSKI W