国家/地区 Finland（2）
关键词 SIC（2）
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Wafer-scale graphene quality assessment using micro four-point probe mapping

NANOTECHNOLOGY

MACKENZIE DMA, KALHAUGE KG, WHELAN PR, OSTERGAARD FW, PASTERNAK I, STRUPINSKI W, BOGGILD P, JEPSEN PU, PETERSEN DH

Growth temperature dependence of the electrical and structural properties of epitaxial graphene on SiC(0001)

PHYSICA STATUS SOLIDI BBASIC SOLID STATE PHYSICS

VESAPUISTO E, KIM W, NOVIKOV S, LIPSANEN H, KUIVALAINEN P