国家/地区 China（2）
关键词 SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY（2）
出版物
出版时间 2022（2）
机构
作者

Optical parameters of graphene/MoS2 van der Waals heterostructure investigated by spectroscopic ellipsometry

APPLIED SURFACE SCIENCE

MA YC, LU S, DONG XL, HAN GR, CHEN ZP, LIU Y

Thickness and Layer Stacking Order Effects on Complex Optical Conductivity and Exciton Strength of Few-Layer Graphene: Implications for Optical Modulators and Photodetectors

ACS APPLIED NANO MATERIALS

FANG MS, GU HG, SONG BK, GUO ZF, LIU SY