国家/地区 | China(2) |
关键词 | SCANNING ELECTRON MICROSCOPY(2) |
出版物 | |
出版时间 | |
机构 | |
作者 | LUO F(2) |
MICRO NANO LETTERS
CHEN DS, ZHOU HT, TIAN Y, LUO F, LIU DB, LUO BW
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
YUAN M, LUO F, RAO YF, YING W, YU JB, LI H, CHEN XP
国家/地区 | China(2) |
关键词 | SCANNING ELECTRON MICROSCOPY(2) |
出版物 | |
出版时间 | |
机构 | |
作者 | LUO F(2) |
MICRO NANO LETTERS
CHEN DS, ZHOU HT, TIAN Y, LUO F, LIU DB, LUO BW
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
YUAN M, LUO F, RAO YF, YING W, YU JB, LI H, CHEN XP