国家/地区 | China(2) |
关键词 | |
出版物 | |
出版时间 | |
机构 | CHINESE ACAD SCI(2) |
作者 | LUO L(2) |
MICROELECTRONICS RELIABILITY
XU YN, BI JS, LI YD, XI K, FAN LJ, LIU M, SANDIP M, LUO L
JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY A
LEI LJ, WU ZW, LIU H, QIN ZF, CHEN CM, LUO L, WANG GF, FAN WB, WANG JG