国家/地区 Finland（2）
关键词 AFM（2）
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机构 AALTO UNIV（2）
作者

Quantitative Atomic Resolution Force Imaging on Epitaxial Graphene with Reactive and Nonreactive AFM Probes

ACS NANO

BONESCHANSCHER MP, VAN DER LIT J, SUN ZX, SWART I, LILJEROTH P, VANMAEKELBERGH D

Growth temperature dependence of the electrical and structural properties of epitaxial graphene on SiC(0001)

PHYSICA STATUS SOLIDI BBASIC SOLID STATE PHYSICS

VESAPUISTO E, KIM W, NOVIKOV S, LIPSANEN H, KUIVALAINEN P