国家/地区 Finland（2）
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机构 TECH UNIV DENMARK（2）
作者 PETERSEN DH（2）

Wafer-scale graphene quality assessment using micro four-point probe mapping

NANOTECHNOLOGY

MACKENZIE DMA, KALHAUGE KG, WHELAN PR, OSTERGAARD FW, PASTERNAK I, STRUPINSKI W, BOGGILD P, JEPSEN PU, PETERSEN DH

Qualitative analysis of scanning gate microscopy on epitaxial graphene

2D MATERIALS

MACKENZIE DMA, PANCHAL V, CORTELEON H, PETERSEN DH, KAZAKOVA O