国家/地区 India（2）
关键词
出版物
出版时间 2011（2）
机构 INDIAN INST SCI（2）
作者 RAGHAVAN S（2）

High contrast imaging and thickness determination of graphene with in-column secondary electron microscopy

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS

KOCHAT V, PAL AN, SNEHA ES, SAMPATHKUMAR A, GAIROLA A, SHIVASHANKAR SA, RAGHAVAN S, GHOSH A

Microscopic Mechanism of 1/f Noise in Graphene: Role of Energy Band Dispersion

ACS NANO

PAL AN, GHATAK S, KOCHAT V, SNEHA ES, SAMPATHKUMAR A, RAGHAVAN S, GHOSH A