| 国家/地区 |
Iran(3)
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| 关键词 |
CIRCUIT MODELING(3)
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2017(3)
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| 机构 | |
| 作者 |
MICROELECTRONICS RELIABILITY
FOTOOHI S, HAJINASIRI S
JOURNAL OF PHYSICS DAPPLIED PHYSICS
TAGHVAEE HR, ZARRINKHAT F, ABRISHAMIAN MS
IEEE JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONICS
BAGHERI A, RAHMANI B, KHAVASI A
