| 国家/地区 |
Italy（4）
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| 关键词 |
CONDUCTIVE ATOMIC FORCE MICROSCOPY（4）
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| 出版物 | NANOTECHNOLOGY（2） |
| 出版时间 | 2019（2） |
| 机构 | |
| 作者 |
GIANNAZZO F（4）
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ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS
GIANNAZZO F, GRECO G, SCHILIRO E, LO NIGRO R, DERETZIS I, LA MAGNA A, ROCCAFORTE F, IUCOLANO F, RAVESI S, FRAYSSINET E, MICHON A, CORDIER Y
NANOTECHNOLOGY
GIANNAZZO F, SHTEPLIUK I, IVANOV G, IAKIMOV T, KAKANAKOVAGEORGIEVA A, SCHILIRO E, FIORENZA P, YAKIMOVA R
APPLIED SURFACE SCIENCE
GIANNAZZO F, DERETZIS I, NICOTRA G, FISICHELLA G, SPINELLA C, ROCCAFORTE F, LA MAGNA A
NANOTECHNOLOGY
GIANNAZZO F, DAGHER R, SCHILIRO E, PANASCI SE, GRECO G, NICOTRA G, ROCCAFORTE F, AGNELLO S, BRAULT J, CORDIER Y, MICHON A