| 国家/地区 |
Italy（2）
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| 关键词 |
CONDUCTIVE ATOMIC FORCE MICROSCOPY（2）
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| 作者 |
GRECO G（2）
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ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS
GIANNAZZO F, GRECO G, SCHILIRO E, LO NIGRO R, DERETZIS I, LA MAGNA A, ROCCAFORTE F, IUCOLANO F, RAVESI S, FRAYSSINET E, MICHON A, CORDIER Y
NANOTECHNOLOGY
GIANNAZZO F, DAGHER R, SCHILIRO E, PANASCI SE, GRECO G, NICOTRA G, ROCCAFORTE F, AGNELLO S, BRAULT J, CORDIER Y, MICHON A