国家/地区 | Italy(2) |
关键词 | CONDUCTIVE ATOMIC FORCE MICROSCOPY(2) |
出版物 | |
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机构 | |
作者 | LA MAGNA A(2) |
ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS
GIANNAZZO F, GRECO G, SCHILIRO E, LO NIGRO R, DERETZIS I, LA MAGNA A, ROCCAFORTE F, IUCOLANO F, RAVESI S, FRAYSSINET E, MICHON A, CORDIER Y
APPLIED SURFACE SCIENCE
GIANNAZZO F, DERETZIS I, NICOTRA G, FISICHELLA G, SPINELLA C, ROCCAFORTE F, LA MAGNA A