国家/地区 Italy(2)
关键词 CONDUCTIVE ATOMIC FORCE MICROSCOPY(2)
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机构
作者 LA MAGNA A(2)

ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS

GIANNAZZO F, GRECO G, SCHILIRO E, LO NIGRO R, DERETZIS I, LA MAGNA A, ROCCAFORTE F, IUCOLANO F, RAVESI S, FRAYSSINET E, MICHON A, CORDIER Y

APPLIED SURFACE SCIENCE

GIANNAZZO F, DERETZIS I, NICOTRA G, FISICHELLA G, SPINELLA C, ROCCAFORTE F, LA MAGNA A