国家/地区 Korea(2)
关键词 OPERANDO ELECTRON MICROSCOPY(2)
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机构
作者 KOO K(2)

ADVANCED MATERIALS

KOO K, PARK J, JI S, TOLEUKHANOVA S, YUK JM

ACS NANO

PARK J, KOO K, NOH N, HA CHANG J, CHEONG JY, DAE KS, PARK JS, JI S, KIM ID, YUK JM