国家/地区 | Malaysia(2) |
关键词 | |
出版物 | |
出版时间 | |
机构 | UNIV TEKNOL MALAYSIA UTM(2) |
作者 | KARIMI H(2) |
MICROELECTRONICS RELIABILITY
SAEIDMANESH M, RAHMANI M, KARIMI H, KHALEDIAN M, ISMAIL R
JOURNAL OF NANOMATERIALS
SAEIDMANESH M, KIANI MJ, SIEW KE, AKBARI E, KARIMI H, ISMAIL R