国家/地区 Malaysia(2)
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机构 UNIV TEKNOL MALAYSIA UTM(2)
作者 KARIMI H(2)

MICROELECTRONICS RELIABILITY

SAEIDMANESH M, RAHMANI M, KARIMI H, KHALEDIAN M, ISMAIL R

JOURNAL OF NANOMATERIALS

SAEIDMANESH M, KIANI MJ, SIEW KE, AKBARI E, KARIMI H, ISMAIL R