国家/地区 Poland（2）
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机构 INST ELECT MAT TECHNOL（2）
作者 BORYSIUK J（2）

Raman Studies of Defects in Graphene Grown on SiC

ACTA PHYSICA POLONICA A

GRODECKI K, BOZEK R, BORYSIUK J, STRUPINSKI W, WYSMOLEK A, STEPNIEWSKI R, BARANOWSKI JM

Transmission electron microscopy and scanning tunneling microscopy investigations of graphene on 4H-SiC(0001)

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS

BORYSIUK J, BOZEK R, STRUPINSKI W, WYSMOLEK A, GRODECKI K, STEPNIEWSKI R, BARANOWSKI JM