国家/地区 Poland（3）
关键词 RAMAN SPECTROSCOPY（3）
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机构 INST ELECT MAT TECHNOL（3）
作者 BARANOWSKI J.（2） CIEPIELEWSKI.（2） STRUPINSKI W（2）

Study of Implantation Defects in CVD Graphene by Optical and Electrical Methods

APPLIED SCIENCESBASEL

GAWLIK G, CIEPIELEWSKI P, BARANOWSKI JM

Formation of a highly doped ultra-thin amorphous carbon layer by ion bombardment of graphene

NANOTECHNOLOGY

MICHALOWSKI PP, PASTERNAK I, CIEPIELEWSKI P, GUINEA F, STRUPINSKI W

SEM and Raman analysis of graphene on SiC(0001)

MICRON

GRODECKI K, JOZWIK I, BARANOWSKI JM, TEKLINSKA D, STRUPINSKI W