国家/地区 Usa（3）
关键词 DEFECT（3）
出版物
出版时间
机构 UNIV ROCHEST.（2）
作者 BEAMS R（3）

Tip-enhanced Raman scattering of graphene

JOURNAL OF RAMAN SPECTROSCOPY

BEAMS R

Low Temperature Raman Study of the Electron Coherence Length near Graphene Edges

NANO LETTERS

BEAMS R, CANCADO LG, NOVOTNY L

Raman characterization of defects and dopants in graphene

JOURNAL OF PHYSICSCONDENSED MATTER

BEAMS R, CANCADO LG, NOVOTNY L