| 国家/地区 |
Usa（2）
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| 关键词 |
DEFECT（2）
GRAPHENE（2）
SCANNING TUNNELING .（2）
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2013（2）
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| 机构 | OAK RIDGE NA.（2） |
| 作者 |
HE GW（2）
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ACS NANO
CLARK KW, ZHANG XG, VLASSIOUK IV, HE GW, FEENSTRA RM, LI AP
NANO LETTERS
PARK J, HE GW, FEENSTRA RM, LI AP