国家/地区 Usa(3)
关键词 DEFECT(2) GRAPHENE(2) SCANNING TUNNELING .(2)
出版物
出版时间 2013(2)
机构 OAK RIDGE NATL LAB(3)
作者 HE GW(3)

PHYSICAL REVIEW X

CLARK KW, ZHANG XG, GU G, PARK J, HE GW, FEENSTRA RM, LI AP