国家/地区 Usa(2)
关键词 ATOMIC FORCE MICROSCOPY(2)
出版物
出版时间
机构
作者 PINER RD(2)

ACS NANO

SUK JW, PINER RD, AN JH, RUOFF RS

CARBON

STANKOVICH S, PINER RD, NGUYEN ST, RUOFF RS